由干涉法測材料線膨脹系數(shù)的裝置專利登記公告
專利名稱：由干涉法測材料線膨脹系數(shù)的裝置
摘要： 本實用新型涉及一種由于干涉法測材料線膨脹系數(shù)的裝置。它主要由光源、光學(xué)干涉系統(tǒng)、干涉檢測部件、測溫和控溫器件以及記錄器件等構(gòu)成。該裝置的主要特點是測量準(zhǔn)確，可測量小膨脹系數(shù)材料，同時還可對厚度極薄的金屬薄片試樣的線膨脹系數(shù)進行測量。本實用新型所述裝置的測量范圍可高至６００℃左右，它可由計算機進行數(shù)據(jù)收集、處理及輸出，從而實現(xiàn)了測量的自動化。
專利類型：實用新型專利
專利號：CN89206887.6
專利申請（專利權(quán)）人：上海鋼鐵研究所
專利發(fā)明（設(shè)計）人：王培玉; 張金鳳
主權(quán)項： 一種高精度測量材料線膨脹系數(shù)的裝置，其特征在于它包括：（Ⅰ）產(chǎn)生單色平行光的光源； （Ⅱ）用于產(chǎn)生干涉現(xiàn)象的位于試樣兩端的上干涉片和下干涉片； ?。á螅┯糜跈z測由上、下干涉片產(chǎn)生的干涉條紋的干涉檢測部件； ?。á簦┯糜谟涗浻筛缮鏅z測部件得到的信號的記錄器件； （Ⅴ）用以對試樣加熱的加熱爐； ?。á觯┯靡詼y量和控制爐溫的測溫器件和控溫器件。
專利地區(qū)：上海
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