一種測(cè)繪尺專利登記公告
專利名稱：一種測(cè)繪尺
摘要： 一種測(cè)繪尺，適用于野外經(jīng)緯儀測(cè)圖和室內(nèi)設(shè)計(jì)制圖。這種測(cè)繪尺由分規(guī)圈和有凹槽的直尺組成，直尺上的凹槽可以緊密套合到分規(guī)圈直邊的突起上，套合后之直尺的刻度值與分規(guī)圈的刻度值對(duì)應(yīng)相同。測(cè)圖時(shí)，只要將直尺凹槽套合到分規(guī)圈直邊的突起上，即可進(jìn)行展點(diǎn)。該測(cè)繪尺具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用、攜帶方便，能加快展點(diǎn)速度和提高展點(diǎn)精度等諸多優(yōu)點(diǎn)。
專利類型：實(shí)用新型專利
專利號(hào)：CN89214890.X
專利申請(qǐng)（專利權(quán)）人：中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司西安勘察院
專利發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：頡建蘭
主權(quán)項(xiàng)： 一種測(cè)繪尺，由分規(guī)圈（１）和直尺（３）組成，其特征在于直尺長(zhǎng)邊之端即有凹槽（４）、（５），該凹槽能與分規(guī)圈直邊上的突起（２）呈緊密套合連接，套合后直尺的一側(cè)長(zhǎng)邊與分規(guī)圈的直邊相貼合，且二者的刻度值對(duì)應(yīng)相同。
專利地區(qū)：陜西
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